광학 모듈 및 실리콘 포토닉스 커플링에서 FAU(광섬유 배열 장치)는 핵심 패키지 부품이며, 외관 및 조립 상태는 후속 조립 신뢰성에 직접적인 영향을 미칩니다. 납품 전에 완성된 부품은 전체 치수, V-홈 오프셋, 커버 플레이트 결함, 접착제 상태, 쉘 긁힘 및 부품 오정렬에 대한 검사가 필요합니다. 기존의 단면 또는 수동 육안 검사로는 한 번의 작업으로 6가지 방향을 모두 커버하기 어렵습니다. Shenzhen Xingte Technology Co., Ltd.의 FAU 6면 검사기는 다중 스테이션 비전 카메라를 사용하여 6가지 방향에서 이미지를 동기적으로 캡처하여 단일 로딩 사이클에서 전체 영역 외관 검사를 완료합니다.
1. 검사 대상 및 결함 유형
이 기계는 완성된 FA 광섬유 배열 및 광섬유 부품을 대상으로 하며, 라인 끝에서 전체 외관 품질 게이트 역할을 합니다. 검출해야 할 결함에는 전체 치수 편차, 광섬유에 대한 V-홈 오프셋, 커버 플레이트 표면 결함, 접착제 넘침 또는 부족, 쉘 긁힘 및 부품 오정렬이 포함됩니다. 일부 결함은 조립 정렬에서 발생하고, 다른 결함은 디스펜싱 및 취급에서 발생합니다. 이러한 결함이 후속 단계로 흘러 들어가면 커플링 및 패키징 품질에 영향을 미칩니다. 6면 검사는 완성된 부품이 라인을 떠나기 전에 이러한 결함을 검출하기 위해 존재합니다.
2. 6면 동기 이미징 원리
고정구 주위에 다중 스테이션 비전 카메라가 배치됩니다. 부품이 로드되면 각 방향의 카메라가 외관 이미지를 동기적으로 캡처하여 부품의 6개 면을 모두 커버하여 사각 지점 없이 전체 영역 이미지를 생성합니다. 부품별로 뒤집거나 손으로 회전하는 것에 비해 동기식 획득은 부품당 사이클 시간을 단축하고 반복적인 취급으로 인한 충돌을 방지합니다. 빠른 검사 사이클로 인해 이 기계는 고용량 FA 부품 생산의 품질 검사 요구를 지원합니다.
3. 검사 항목
한 번의 이미징 패스로 기계는 여러 치수를 검사합니다. 전체 치수는 윤곽이 제어 범위 내에 있는지 판단합니다. V-홈 오프셋은 광섬유 배열과 홈 사이의 상대 위치를 확인합니다. 커버 플레이트 결함은 표면 외관을 검사합니다. 넘침 및 부족은 접착제 도포 상태에 해당합니다. 쉘 긁힘은 취급 및 운송 손상을 추적합니다. 부품 오정렬은 조립된 각 부품이 제자리에 있는지 확인합니다. 각 항목의 임계값은 공정 요구 사항에 따라 설정할 수 있으며, 결함 판단을 일관되게 유지합니다.
4. 다중 결함 클래스의 AI 인식
이 기계는 AI 알고리즘을 사용하여 동기 이미지에서 치수 편차, 접착제 결함, 외관 범프 및 조립 오정렬을 포함한 여러 결함 클래스를 병렬로 인식합니다. 알고리즘은 이미지 특징을 사전 설정된 결함 라이브러리와 비교하고 판단을 출력하여 눈의 피로와 수동 검사의 주관적 차이로 인한 누락 및 잘못된 호출을 줄입니다. 다중 클래스, 다중 면 결함의 병렬 인식은 6면 검사를 단일 지점 검사와 구별하는 요소입니다.
5. 자동 마킹 및 데이터 보고서
결함으로 판단된 부품은 후속 분류를 위해 자동으로 마킹되며, 결과는 결함 유형 및 분포를 기록하는 데이터 보고서로 컴파일됩니다. 보고서는 배치 품질을 추적하고 라인 공정의 반복적인 개선을 지원하는 데 사용될 수 있습니다. 모듈식 빠른 교체 고정구를 통해 기계는 다양한 광섬유 배열 사양에 신속하게 적응할 수 있습니다. Shenzhen Xingte Technology Co., Ltd.는 FAU 완성 부품 품질 관리를 위한 비전 검사 솔루션을 제공할 수 있습니다.
