어레이드 웨이브게이드 그레이트 (AWG) 는 파장 멀티플렉싱 및 디 멀티플렉싱을 수행하기 위해 고속 광 모듈에서 사용되는 주요 수동 구성 요소입니다.그것의 칩 끝 얼굴 및 waveguide 채널의 처리 품질은 광적 결합 효율과 채널-방-채널 일관성에 직접적으로 영향을 미칩니다.Shenzhen Xingte Technology Co., Ltd는 AWG 대량 생산을 위해 AWG 끝면 검사 기계를 개발했습니다.높은 확대 미스코피 영상 및 인공지능 이미지 알고리즘에 의존하여 칩 끝면과 파도 가이드 채널의 접촉 없는 검사를 수행합니다.미크론 규모의 최종 표면 결함 검출을 자동화 품질 관리 과정으로 가져옵니다.
1AWG 끝면 결함의 일반적인 유형
AWG 칩 조각, 닦기 및 청소 중에, 끝면은 긁힘, 칩, 오염 및 파도 유도 손상에 취약합니다.이 결함 들 은 보통 몇 미크로미터 정도 이며, 눈 으로나 일반 확대 magnifier 으로 신뢰성 있게 식별 하기 어렵다, 그러나 그들은 삽입 손실 증가, 비정상적인 반사 또는 채널 간 교란을 일으킬 수 있습니다.따라서 각 칩의 끝면 상태를 객관적으로 판단하기 위해 생산 라인에 전용 끝면 검사소를 배치하는 것은 다운스트림 결합 생산량을 보호하는 필수 조건입니다..
2고 확대 미스코피 및 인공지능 검사 작업 흐름
이 기계는 고 확대 현미경 영상 시스템을 통해 AWG 칩 끝면의 명확한 이미지를 캡처합니다.그리고 인공지능 이미지 알고리즘은 자동으로 이미지를 해석합니다.임베디드 검사 기준에 기초하여 시스템은 자동으로 끝면 경사, 칩링, 오염 및 파도 유도 손상 등을 분류하고 통과 또는 실패 결과를 출력합니다.수동 시각 검사와 비교, AI 해석은 주어진 부품 번호에 대한 판단 기준을 고정하고 운영자 경험의 차이로 인한 잘못된 분류를 줄입니다.
3채널 위치와 피치의 기하학적 측정
외모 결함 인식 외에도 기계는 동시에 채널 위치와 채널 피치와 같은 주요 기하학적 매개 변수를 측정 할 수 있습니다. 기하학적 데이터는 결함 이미지와 함께 저장됩니다.그래서 프로세스 엔지니어는 dicing 또는 닦는 이동했는지 판단 할 수 있습니다, 그리고 광섬유 배열과 후속 결합 정렬에 대한 참조로 데이터를 사용합니다.따라서 끝 면 검사 는 외모 화면 으로써 뿐만 아니라 폐쇄 루프 공정 최적화 에 대한 입력 으로써도 작용 합니다.
4부차 손상을 방지하기 위한 접촉 없는 검사
AWG 칩 끝면은 광적 거울 표면입니다. 종래 접촉 측정, 탐사선 또는 고정 장치가 끝면에 접근하면 새로운 긁힘, 구부러진 점 또는 기름 오염이 발생할 수 있습니다..기계는 비접촉 검사 방법을 사용하여 광학 렌즈가 장치 표면을 결코 만지지 않으며 설계에 의해 2차 손상을 피합니다.따라서 정밀하게 닦은 후, 결합 및 조립 전에 배치하기에 적합합니다., 끝면 상태가 특히 민감합니다.
5빠른 고정 변경 및 연속 대량 검사
도구 장치는 빠른 전환을 지원하고 여러 AWG 칩 사양과 호환되며, 라인이 부품 번호 사이를 전환 할 때 설정 및 정렬 시간을 줄입니다.기계는 연속 팩 검사를 지원합니다., 이미징, 해석 및 결과 출력을 부분별로 완료합니다. 그것의 속도는 고속 광학 모듈 AWG 생산의 온라인 품질 관리 요구 사항에 부합합니다.그리고 수동 샘플링과 관련된 놓친 탐지 및 사이클 시간 병목을 피합니다..
6데이터 아카이빙 및 MES 통합
모든 검사 영상과 판단 결과는 자동으로 기록되고, 검사 보고서는 대량으로 출력됩니다.데이터는 MES 라인과 통합되어 부품 롯 번호와 공정 정보와 연결될 수 있습니다., 그래서 어떤 품질 문제도 특정 시간 창과 장비 조각으로 거슬러 올라갈 수 있습니다.종단 검사에 필요한 지능형 장비를 계속 공급합니다., 광학 부품 대량 생산을 위한 결합 및 조립, 고객이 최종 면 품질 통제를 정량화되고 추적 가능한 라인 레벨 시스템으로 가져오는 것을 돕는.
