एक एरेड वेवगाइड ग्रेटिंग (AWG) उच्च-गति वाले ऑप्टिकल मॉड्यूल में तरंग दैर्ध्य मल्टीप्लेक्सिंग और डीमल्टीप्लेक्सिंग करने के लिए उपयोग किया जाने वाला एक प्रमुख निष्क्रिय घटक है। इसके चिप एंड फेस और वेवगाइड चैनलों की प्रसंस्करण गुणवत्ता सीधे ऑप्टिकल कपलिंग दक्षता और चैनल-से-चैनल स्थिरता को प्रभावित करती है। शेन्ज़ेन शिंग्टे टेक्नोलॉजी कं, लिमिटेड ने AWG मास प्रोडक्शन के लिए एक AWG एंड-फेस निरीक्षण मशीन विकसित की है, जो चिप एंड फेस और वेवगाइड चैनलों के गैर-संपर्क निरीक्षण को करने के लिए उच्च-आवर्धन माइक्रोस्कोपी इमेजिंग और AI इमेज एल्गोरिदम पर निर्भर करती है, जिससे माइक्रोन-स्केल एंड-फेस दोष का पता लगाना स्वचालित गुणवत्ता-नियंत्रण प्रक्रिया में आता है।
1. AWG एंड-फेस दोषों के सामान्य प्रकार
AWG चिप डाइसिंग, पॉलिशिंग और सफाई के दौरान, एंड फेस खरोंच, चिपिंग, संदूषण और वेवगाइड क्षति के लिए प्रवण होता है। ये दोष आम तौर पर कुछ माइक्रोमीटर के क्रम के होते हैं और आंखों से या सामान्य आवर्धक से मज़बूती से पहचानना मुश्किल होता है, फिर भी वे बढ़े हुए सम्मिलन हानि, असामान्य बैक रिफ्लेक्शन या इंटर-चैनल क्रॉसस्टॉक का कारण बन सकते हैं। इसलिए, प्रत्येक चिप की एंड-फेस स्थिति का वस्तुनिष्ठ रूप से न्याय करने के लिए उत्पादन लाइन पर एक समर्पित एंड-फेस निरीक्षण स्टेशन रखना डाउनस्ट्रीम कपलिंग उपज की रक्षा के लिए एक पूर्वापेक्षा है।
2. उच्च-आवर्धन माइक्रोस्कोपी और AI निरीक्षण वर्कफ़्लो
मशीन एक उच्च-आवर्धन माइक्रोस्कोपी इमेजिंग सिस्टम के माध्यम से AWG चिप एंड फेस की स्पष्ट छवियां कैप्चर करती है, और इसके अंतर्निहित AI इमेज एल्गोरिदम फिर अधिग्रहीत छवियों की स्वचालित रूप से व्याख्या करते हैं। एम्बेडेड निरीक्षण मानदंडों के आधार पर, सिस्टम स्वचालित रूप से एंड-फेस खरोंच, चिपिंग, संदूषण और वेवगाइड क्षति को वर्गीकृत करता है, और एक पास या फेल परिणाम आउटपुट करता है। मैन्युअल दृश्य निरीक्षण की तुलना में, AI व्याख्या एक दिए गए पार्ट नंबर के लिए निर्णय मानदंडों को ठीक करती है और ऑपरेटर अनुभव में अंतर के कारण होने वाली गलत वर्गीकरण को कम करती है।
3. चैनल स्थिति और पिच का ज्यामितीय मापन
रूप दोष पहचान से परे, मशीन एक साथ चैनल स्थिति और चैनल पिच जैसे प्रमुख ज्यामितीय मापदंडों को माप सकती है। ज्यामिति डेटा को दोष छवियों के साथ संग्रहीत किया जाता है, ताकि प्रक्रिया इंजीनियर यह तय कर सकें कि डाइसिंग या पॉलिशिंग शिफ्ट हो गई है या नहीं, और फाइबर सरणियों के साथ बाद के कपलिंग संरेखण के लिए डेटा का संदर्भ के रूप में उपयोग कर सकें। इस प्रकार एंड-फेस निरीक्षण न केवल एक उपस्थिति स्क्रीन के रूप में कार्य करता है, बल्कि बंद-लूप प्रक्रिया अनुकूलन के लिए एक इनपुट के रूप में भी कार्य करता है।
4. द्वितीयक क्षति से बचने के लिए गैर-संपर्क निरीक्षण
AWG चिप एंड फेस एक ऑप्टिकल मिरर सतह है। पारंपरिक संपर्क माप, जिसमें जांच या फिक्स्चर एंड फेस के पास आते हैं, नई खरोंच, इंडेंटेशन या तेल संदूषण ला सकते हैं। मशीन एक गैर-संपर्क निरीक्षण विधि का उपयोग करती है जिसमें ऑप्टिकल लेंस कभी भी डिवाइस की सतह को नहीं छूता है, डिजाइन द्वारा द्वितीयक क्षति से बचा जाता है। इसलिए यह फाइन पॉलिशिंग के बाद और कपलिंग और असेंबली से पहले प्लेसमेंट के लिए उपयुक्त है, जहां एंड-फेस स्थिति विशेष रूप से संवेदनशील होती है।
5. त्वरित फिक्स्चर चेंजओवर और निरंतर बैच निरीक्षण
टूलिंग फिक्स्चर त्वरित चेंजओवर का समर्थन करता है और कई AWG चिप विनिर्देशों के साथ संगत है, जब कोई लाइन पार्ट नंबर के बीच स्विच करती है तो सेटअप और संरेखण समय को कम करता है। एक बार सेट हो जाने पर, मशीन निरंतर बैच निरीक्षण का समर्थन करती है, इमेजिंग, व्याख्या और परिणाम आउटपुट को पार्ट दर पार्ट पूरा करती है। इसकी गति उच्च-गति वाले ऑप्टिकल मॉड्यूल AWG उत्पादन की ऑनलाइन गुणवत्ता-नियंत्रण आवश्यकताओं से मेल खाती है, और यह मैन्युअल नमूनाकरण से जुड़ी छूटी हुई पहचान और चक्र-समय की बाधाओं से बचाती है।
6. डेटा संग्रह और MES एकीकरण
प्रत्येक निरीक्षण छवि और निर्णय परिणाम स्वचालित रूप से संग्रहीत किया जाता है, और निरीक्षण रिपोर्ट बैचों द्वारा आउटपुट की जाती है। डेटा को लाइन MES के साथ एकीकृत किया जा सकता है और पार्ट लॉट नंबर और प्रक्रिया जानकारी से जोड़ा जा सकता है, ताकि किसी भी गुणवत्ता समस्या को एक विशिष्ट समय विंडो और उपकरण के टुकड़े का पता लगाया जा सके। शेन्ज़ेन शिंग्टे टेक्नोलॉजी कं, लिमिटेड ऑप्टिकल घटक मास प्रोडक्शन को कवर करने वाले बुद्धिमान उपकरण प्रदान करना जारी रखता है, जिसमें एंड-फेस निरीक्षण, कपलिंग और असेंबली शामिल हैं, जो ग्राहकों को एंड-फेस गुणवत्ता नियंत्रण को एक मात्रात्मक और पता लगाने योग्य लाइन-स्तरीय प्रणाली में लाने में मदद करता है।
