Bir dizi dalga kılavuzlu ızgara (AWG), dalga boyu çoğullama ve çoğullamayı çözme işlemleri için yüksek hızlı optik modüllerde kullanılan anahtar pasif bir bileşendir. Çip uç yüzünün ve dalga kılavuzu kanallarının işleme kalitesi, optik kuplaj verimliliğini ve kanal-kanal tutarlılığını doğrudan etkiler. Shenzhen Xingte Technology Co., Ltd., yüksek büyütmeli mikroskobik görüntüleme ve yapay zeka görüntü algoritmalarına dayanarak, çip uç yüzünün ve dalga kılavuzu kanallarının temassız denetimini gerçekleştiren, mikron ölçekli uç yüz kusuru tespitini otomatik bir kalite kontrol sürecine getiren bir AWG uç yüzü denetim makinesi geliştirmiştir.
1. AWG Uç Yüzü Kusurlarının Yaygın Türleri
AWG çip kesme, parlatma ve temizleme sırasında, uç yüzü çizilmelere, yongalanmalara, kirlenmeye ve dalga kılavuzu hasarına eğilimlidir. Bu kusurlar tipik olarak birkaç mikrometre boyutundadır ve gözle veya yaygın bir büyüteçle güvenilir bir şekilde tanımlanması zordur, ancak artan ekleme kaybına, anormal geri yansımaya veya kanallar arası çapraz konuşmaya neden olabilirler. Bu nedenle, her çipin uç yüzü durumunu objektif olarak yargılamak için üretim hattına özel bir uç yüzü denetim istasyonu yerleştirmek, sonraki kuplaj verimini korumak için bir ön koşuldur.
2. Yüksek Büyütmeli Mikroskop ve Yapay Zeka Denetim İş Akışı
Makine, yüksek büyütmeli mikroskobik görüntüleme sistemi aracılığıyla AWG çip uç yüzünün net görüntülerini yakalar ve yerleşik yapay zeka görüntü algoritmaları daha sonra elde edilen görüntüleri otomatik olarak yorumlar. Gömülü denetim kriterlerine dayanarak, sistem uç yüzü çiziklerini, yongalanmaları, kirlenmeyi ve dalga kılavuzu hasarını otomatik olarak sınıflandırır ve bir geçme veya kalma sonucu verir. Manuel görsel denetimle karşılaştırıldığında, yapay zeka yorumu, belirli bir parça numarası için yargı kriterlerini sabitler ve operatör deneyimindeki farklılıklardan kaynaklanan yanlış sınıflandırmayı azaltır.
3. Kanal Konumu ve Aralığının Geometrik Ölçümü
Görünüm kusuru tanıma ötesinde, makine kanal konumu ve kanal aralığı gibi temel geometrik parametreleri aynı anda ölçebilir. Geometri verileri kusur görüntüleriyle birlikte saklanır, böylece proses mühendisleri kesme veya parlatmanın kayıp olup olmadığını yargılayabilir ve verileri fiber dizileriyle sonraki kuplaj hizalaması için bir referans olarak kullanabilir. Bu nedenle uç yüzü denetimi yalnızca bir görünüm taraması olarak değil, aynı zamanda kapalı döngü proses optimizasyonu için bir girdi olarak da hizmet eder.
4. İkincil Hasarı Önlemek İçin Temassız Denetim
AWG çip uç yüzü optik bir ayna yüzeyidir. Probların veya fikstürlerin uç yüze yaklaştığı geleneksel temaslı ölçüm, yeni çizikler, girintiler veya yağ kirliliği getirebilir. Makine, optik lensin cihaz yüzeyine hiç dokunmadığı temassız bir denetim yöntemi kullanır, bu da tasarım gereği ikincil hasarı önler. Bu nedenle, uç yüzü durumunun özellikle hassas olduğu ince parlatma sonrası ve kuplaj ve montaj öncesi yerleştirme için uygundur.
5. Hızlı Fikstür Değişimi ve Sürekli Parti Denetimi
Takım fikstürü hızlı değişim desteği sunar ve birden fazla AWG çip spesifikasyonuyla uyumludur, bu da bir hattın parça numaraları arasında geçiş yaparken kurulum ve hizalama süresini azaltır. Kurulduktan sonra, makine parça parça görüntüleme, yorumlama ve sonuç çıktısını tamamlayarak sürekli parti denetimini destekler. Hızı, yüksek hızlı optik modül AWG üretiminin çevrimiçi kalite kontrol gereksinimlerine uyar ve manuel örnekleme ile ilişkili kaçırılan tespit ve döngü süresi darboğazlarını önler.
6. Veri Arşivleme ve MES Entegrasyonu
Her denetim görüntüsü ve yargı sonucu otomatik olarak arşivlenir ve denetim raporları toplu olarak çıktı alınır. Veriler, hat MES ile entegre edilebilir ve parça parti numaraları ve proses bilgileriyle ilişkilendirilebilir, böylece herhangi bir kalite sorunu belirli bir zaman penceresine ve ekipman parçasına kadar izlenebilir. Shenzhen Xingte Technology Co., Ltd., optik bileşenlerin seri üretimi için uç yüzü denetimi, kuplaj ve montajı kapsayan akıllı ekipman sağlamaya devam ederek, müşterilerin uç yüzü kalite kontrolünü ölçülebilir ve izlenebilir bir hat seviyesi sistemine getirmelerine yardımcı olur.
