400G, 800G ve daha yüksek hızlı optik modüllerde, dizili dalga kılavuzu ızgarası (AWG) dalga boyu çoğullama ve çoğullamayı çözer. Çip uç yüzeyinin parlatma kalitesi ve dalga kılavuzu kanallarının durumu, ekleme kaybını, geri dönüş kaybını ve kanal tutarlılığını doğrudan etkiler. AWG cihazları Ar-Ge numunelerinden seri üretime geçerken, hat hızını yavaşlatmadan uç yüzey verimini kontrol altında tutmak, üreticiler için ortak bir endişe haline gelmiştir. Shenzhen Xingte Technology Co., Ltd., seri üretim deneyiminden yararlanarak, hat içi otomatik denetim etrafında odaklanan bir yaklaşım sunmaktadır.
1. Uç Yüzey Hataları Optik Performansı Nasıl Etkiler
AWG çip uç yüzeyindeki çizikler, yongalanmalar, kirlenme ve dalga kılavuzu hasarı mikron ölçekli görünüm kusurları gibi görünebilir, ancak optik yolda büyütülürler: çizikler ve yongalanmalar saçılmaya ve ek kayıplara neden olur, kirlenme ve artık parçacıklar uç yüzey yansımasını değiştirir ve dalga kılavuzu kanal kenarındaki hasar kanaldaki ışık yayılımını etkileyebilir. Hatalı çipler aşağı akış kuplaj ve paketlemeye akarsa, sorun genellikle bitmiş modül testinde bulunur, bu da yeniden işleme maliyetlerinin önceden yakalamaktan çok daha fazlasına mal olmasına neden olur.
2. Manuel Görsel Denetimin Sınırlamaları
Geleneksel uç yüzey kalite kontrolü, operatörlerin her çipi mikroskop altında gözle incelemesine dayanır. Bu, küçük partilerde işe yarayabilir, ancak seri üretimde üç zayıflığı ortaya çıkarır: kusurlar mikrometre ölçeğindedir ve yorgunluk nedeniyle gözden kaçması kolaydır; farklı operatörler aynı çizik veya lekeye farklı toleranslar uygular, bu nedenle yargı kriterleri kayar; ve uzun süreli görsel denetim emeği bağlar, sonuçların yapılandırılmış bir şekilde kaydedilmesi zordur, bu da daha sonraki izlenebilirliği ve süreç analizini zorlaştırır.
3. Hat İçi Otomatik Denetim Hattın Neresinde Yer Alır
Seri üretim için, AWG uç yüzey denetimi, ince parlatma ve temizlemeden sonra ve fiber diziye kuplajdan önce yerleştirilen bir hat içi kalite istasyonu olarak gömülmelidir. Parlatmadan sonra, her cihaz yüksek büyütmeli görüntüleme ve yapay zeka yorumlamasından geçer: iyi parçalar kuplaja akar, hatalı parçalar ise otomatik olarak reddedilir ve nedene göre etiketlenir. Bu, hatalı çiplerin kuplajda yeniden işlenmeye neden olmasını önler ve denetim döngüsü süresini yukarı ve aşağı akış adımlarına uygun tutar, böylece hat darboğazı haline gelmez.
4. Denetim Standartları ve Kalite İzlenebilirliği
Hat içi denetim, uç yüzey kalite standartlarını yürütülebilir yargı kurallarına dönüştürmeyi gerektirir. Makine, çizikler, yongalanmalar, kirlenme ve dalga kılavuzu hasarı için ayrı kurallar uygulayarak denetim kriterlerini gömer, böylece her cihaz aynı standartta yargılanır. Denetim görüntüleri ve sonuçları parti bazında arşivlenir ve otomatik olarak raporlanır ve hat MES ile entegre edilebilir ve parti ve süreç bilgileriyle bağlantılı olabilir. Müşteri sahasında veya test sırasında bir sorun ortaya çıkarsa, ilgili uç yüzey denetim kayıtları hızla geriye doğru izlenebilir.
5. Temel Seçim Kriterleri
AWG uç yüzey denetim ekipmanı seçerken, üreticiler dört boyutu değerlendirmelidir: mikroskop çözünürlüğü, ürünlerinin tespit etmesi gereken mikron ölçekli kusurlar için yeterli mi; yapay zeka kusur kütüphanesi, süreçlerinde karşılaşılan kusur türlerini kapsıyor mu ve yargı kriterleri ürün spesifikasyonuna göre ayarlanabilir mi; izlenebilirliği desteklemek için veriler otomatik olarak arşivlenip MES ile entegre ediliyor mu; ve fikstür, karma model üretimine uyum sağlamak için birden fazla AWG çip spesifikasyonu arasında hızlı değişiklik yapmayı destekliyor mu. Shenzhen Xingte Technology Co., Ltd., üreticilerin uç yüzey verim kontrolünü hem sağlam hem de ayrıntılı hale getirmelerine yardımcı olarak, yüksek hızlı optik modül üretimi için AWG uç yüzey denetimi ve otomatik kuplaj gibi entegre akıllı ekipmanlar sağlamaktadır.
